新品（免拆分）
　　？配置新技术“样品免拆分”检测模式：采用新技术的光路结构，小照射光斑直径可达到0.5mm，辅以的光斑定位系统，从而可以实现对复杂样品进行免拆分直接测量的要求
　　？配置符合中国国家标准的样品混测功能：方形4mmX4mm光斑设计，配合0.5mm光斑配合使用，能够对电路板等复杂样品实现“免拆分”区域扫描测量功能；从而显著节省测量时间，大幅度提高检测效率
　　？配置ON-Line实时在线技术支持系统（选配）：实时解决用户在使用过程中的疑难技术问题，同时对用户操作人员进行培训
　　？配置十六组复合滤光片：NDA200型配置了16组复合型滤光片，是业界配置全、数目多的配置之一；16组滤光片的配置，极大的保证了XRF分析仪针对各种复杂样品检测的适应性
　　？内置标准工作曲线：仪器内置了满足EU-RoHS以及CHINA-RoHS产品要求的基础材料的工作曲线，；并与国家指定的检测实验室保持一致
　　？具备开放的工作曲线技术平台：基于开放的工作曲线技术平台，电子生产企业可以建立针对自己工厂特定物料的工作曲线，确保XRF分析仪检测结果的可靠性和准确性
　　？分析软件操作系统分级管理：仪器系统软件配置了操作员、工程师两级操作功能菜单，便于工厂有序管理；菜单简单直观，避免仪器重要参数的误修改；工程师菜单功能强大，仪器的各种参数设置权限全部开放给用户
　　？采用经典的迷宫式辐射防护结构：采用了迷宫式辐射防护结构，在保持仪器外形美观操作方便时，彻底杜绝低能散射X射线的泄露
　　？可选配技术“影响权系数法”多层镀层测厚功能：纳优科技的“影响权系数法”多层镀层测厚技术，显著提高镀层厚度测量的准确度；可测量镀层数量为9层；彻底解决了常规XRF测厚方法所不能解决的塑料基体镀层厚度测量的技术难题
　　分析方法及系统软件
　　分析方法配置：
　　？基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
　　？经验系数法
　　？理论α系数法
　　软件功能描述：
　　？RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
　　？各种金属材料、无机非金属材料（不包括聚合物材料）的材质分析（S～U元素）
　　？聚合物等有机材料中硫（S）～铀（U）元素的含量分析
　　？分析的自主定制与输出打印
　　？分析结果的保存、查询及统计
　　？On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
　　？多层镀层厚度测量功能（选配）
　　主要配置
　　？美国Si-PIN电制冷半导体探测器
　　？侧窗钼（Mo）靶管
　　？标配16组复合滤光片
　　？配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
　　？具备符合中国国家标准的样品混侧功能
　　？内置标准工作曲线
　　？配置On-line实时在线技术支持与服务平台
　　？具备开放工作曲线技术平台
　　？分析软件操作系统分级管理
　　产品参数
　　输入电压：220±5V/50Hz
　　消耗功率：≤500W
　　环境温度：15-30℃
　　环境湿度：≤80%（不结露）
　　主机外形（mm）：长＊宽＊高＝900*500*440
　　样品仓（mm）：长＊宽＊高＝430*380*120
　　主机重量：约60公斤
　　技术指标
　　元素种类：元素周期表中硫（S）～铀（U）之间元素
　　测量时间：
　　对聚合物材料，典型测量时间为200秒
　　对铜基体材料，典型测量时间为400秒