FILMETRICS薄膜厚度测定,产品原晶厚度测定
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大连瑞闻科技有限公司为您提供FILMETRICS薄膜厚度测定仪,F80系列解决产品晶圆薄膜厚度的自动测绘

(1)F80-t 型能满足生产环境的产品晶圆台式测绘,21 秒内能测量 15 个点 

(2)F80-c 型能在 F80-t 的基础上加入晶圆自动传输系统,可以测量大到 300mm 的晶圆 

(3)F80-a型 配备有晶圆分类输送的自动测绘系统,可支持大到 300mm 的晶圆