镀层测厚厚仪(x-strata920)
价格:电议
地区:
电 话:86-755-27832900
手 机:86-13632841466
传 真:86-755-27857558
图文详情
产品属性
相关推荐
元素光谱定性分析. | |
调整和校正功能 | 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移 |
测量自动化功能 | 鼠标激活测量模式:" Point and Shoot" |
多点自动测量模式:随机模式,线性模式,梯度模式,扫描模式,重复测量模式 | |
测量位置预览功能 | |
激光对焦和自动对焦功能 | |
样品台程控功能 | 设定测量点 |
连续多点测量 | |
测量位置预览(图表显示) | |
统计计算功能 | 平均值,标准偏差,相对标准偏差,值,小值,数据变动范围,数据编号,CP,CPK,控制上限图,控制下限图 |
任选软件:统计编辑器允许用户自定义多媒体书 | |
数据分组,X-bar/R图表,直方图 | |
数据库存储功能 | |
系统安全监测功能 |
Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器 |