镀层测厚仪(X-Strata920)
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图文详情
产品属性
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配置规格 | 描述 | |||||
X射线发射系统 | 垂直下照式(从上往下发射光源)X射线光学系统 | |||||
空冷式微聚焦型X射线管,Be窗 | ||||||
标准靶材:Rh靶;任选靶材:W, Mo, Ag, 等 | ||||||
功率:50W | ||||||
装备有安全防辐射光闸 | ||||||
二次X射线滤光片:3个位置程控交换,多种材质,多种厚度任选 | ||||||
准直器 | 单个准直器 | |||||
多准直器自动交换系统,多可同时装6个 | ||||||
多个准直器尺寸任选:圆形:0.1,0.15,0.2,0.3,0.5mm等 矩形:0.025*0.05,0.05*0.05,0.025*0.25,0.05*0.25,0.1*0.4等 | ||||||
样品室 | 开槽式样品室:深600mm*宽350mm*高160mm | |||||
样品台尺寸 | 610mm*610mm | |||||
XYZ三轴控制方式 | 多种控制方式任选:XYZ三轴程序控制,XY轴手动控制和Z轴程序控制,XYZ三轴手动控制 | |||||
XY轴控制移动范围 | 标准:152.4*177.8mm还有5种任选 | |||||
z轴程控移动高度 | 43.18mm | |||||
样品观察系统 | 高分辨率彩色CCD观测系统,标准放大倍数30倍;50倍,100倍任选 | |||||
激光自动对焦功能 | ||||||
可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 | ||||||
计算机系统配置 | IBM联想计算机,惠普喷墨打印机 | |||||
分析应用软件 | 操作系统:windowsXP或windows2000 | |||||
分析软件包:Smart Link FP软件包 | ||||||
测量厚度范围 | 可测量的厚度取决于你的应用 | |||||
基本分析功能 | 采用基本参数法校正,牛津仪器将根据您的应用提供必要的标准样品 | |||||
可检测元素范围:元素周期表上22元素~92元素,即Ti~U | ||||||
可以同时测5层镀层,同时分析15种元素,共存元素校正 | ||||||
贵重金属检测,如Au kara评价 | ||||||
材料和合金元素的分析 | ||||||
多达4个样品的光谱同时显示和比较 | ||||||
元素光谱定性分析 | ||||||
校正功能 | 系统自动调整和校正功能,自动消除系统漂移 | |||||
操作语言 | 中文(繁,简体),英语,日语,韩语,法语,德语,西班牙语,俄语 |