MFM1000系列多功能剪切力测试仪是用于微电子封装和PCBA电子组装制造及其失效分析领域的专用动态测试仪器，具有测试动作迅速、准确、适用面广的特点。适用于半导体IC封装测试、LED封装测试、光电子器件封装测试、PCBA电子组装测试、汽车电子、航空航天、等等。亦可用于各种电子分析及研究单位失效分析领域以及各类院校教学和研究。
　　☆DGFT？智能数字技术：所有测试传感器模块均采用本公司特有的智能数字技术（DGFT？），极大的优化了测试模块适应各种不同类型测试环境的能力，确保同一测试模块工作在不同主机上测试数据的可靠一致性。
　　☆Auto-Range技术：设备所有测试传感器均采用自动量程设计，全量程范围一致的分辨率（16BitPlus超高分辨率），客户在测试前无需在软件端做繁杂而且耗时的档位设定（用户可以把档位设定的工作当作不存在）。
　　☆VPM垂直定位技术：所有测试传感器模块均采用本公司发明垂直定位技术（VPM），确保精准可靠的测试状态和精密的定位动作。
　　☆精密定位XYZ：三轴自动控制，定位精准。X轴和Y轴行程55mm；Z轴65mm.
　　☆坚固机身设计，测试负荷能力高达500KG.
　　☆优异的设备操控性能，全方位保护措施，可自由摆放的左右摇杆控制器，操作手感舒适的摇杆控制器。
　　☆设计新颖的显微镜调节机构，具有多余度调节能力。
　　☆的整机人体工程学优化设计。