TSS-5X远红外放射率测试仪，远红外发射率检测仪
　　测量原理：利用恒温放射的远红外线放射源，将能量照射后计算所反射的能量。
　　测量波长：2-22μm
　　测量范围：0.00-1.00
　　额定：±0.01
　　测量面积：Φ15mm
　　测量距离：12mm（固定侦测头的脚柱部）
　　被测物温：10-40℃（室温）
　　输出：0-0.1V，0-1V（满载）
　　使用温度：10-45℃
　　使用湿度：35-85%RH（未结露、霜之状态）
　　使用电源：AC100V±10%，50/60Hz
　　外型尺寸：侦测头Φ51X137mm（0.5Kg）本体H170X W306xD230mm（5Kg）
　　附属装置：放射率0.94、0.06基准片各一片。
　　
　　TSS-5X放射率测试仪
　　简介：
　　本测量器可以用非常简单且高的方式，测量在常温中的各种物体的放射率。是本公司自身的产品。本测量器早已经由宇宙开発，原子力，半导体产业等的技术分类上所采用。从研究开発应用至生产线上的应用等，可供活用的范围非常广泛。选配记录器，可将所测量值记录并连接PC获取数据及绘制曲线，分析放射曲线，，小，平均值。应用：
　　
　　●在机器的热设计中必须使用的零件的放射率测量
　　●借由放射温度计的测量物体来补正放射率
　　●各种零件的加工/处理前后的放射率比较
　　●其他，从零件的放射率求取物体本身的放射率等
　　●材料科学院，实验领域必须的检测分析设备产品构成：
　　1.红外线照射源借由在一定温度中加热后的半球面黒体炉，在试料中集中照射。
　　2.红外线检验素子从试料反射出的能量的一部分，射进半球面黒体炉的顶点的小孔，用一定比率做检验。注：比率是依据光学系的构造来决定。
　　3.放射率演算回路从反射能量检验器的输出，演算试料的放射率。注：试料的反射率和放射率的关系式如下：rεε＝1-r
　　4.放射率表示値的校正利用附属的放射率基准片（ε＝0.06与0.94）做校正测量原理：利用恒温放射的远红外线放射源，将能量照射后计算所反射的能量。
　　
　　测量波长：2-22μm
　　测量范围：0.00-1.00
　　额定：±0.01
　　测量面积：Φ15mm
　　测量距离：12mm（固定侦测头的脚柱部）
　　被测物温：10-40℃（室温）
　　输出：0-0.1V，0-1V（满载）
　　使用温度：10-45℃
　　使用湿度：35-85%RH（未结露，霜之状态）
　　使用电源：AC100V±10%，50/60Hz
　　外型尺寸：侦测头Φ51X137mm（0.5Kg）本体H170X W306xD230mm（5Kg）
　　附属装置：放射率0.94，0.06基准片各一片。
　　
　　使用此产品的部分客商：北芝电机，象印魔法瓶，新力电器，夏普电机，新日本制铁，三菱重工，丰田合成，旭硝子，住友金属，东芝电机，柯尼卡，信越化学，岛津制造所，住友特殊金属等。