薄膜测厚仪产品用途：适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度测量。
　　
　　薄膜测厚仪产品特点：
　　1.接触式测量
　　2.测头自动升降
　　3.手动、自动双重测量模式
　　4.数据实时显示、自动统计、打印
　　5.显示值、小值、平均值和统计偏差
　　6.标准接触面积、测量压力（非标可选）
　　7.标准量块标定
　　
　　薄膜测厚仪技术参数：
　　1.测量范围：0～2mm（常规）
　　0～6mm；12mm（可选）
　　2.分辨率：0.1μm
　　3.测量速度：10次／min（可调）
　　4.测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
　　5.接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
　　注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
　　薄膜测厚仪标准配置：主机、微型打印机、标准量块一件
　　
　　薄膜测厚仪依据标准：GB／T 6672、GB／T 451.3、GB／T 6547、ASTM D645、ASTM D374、ASTM D1777