一、产品介绍
　　实验内容：
　　光纤端面的处理及耦合
　　以光纤为相干光传输路径，搭制马赫-曾德尔干涉仪，并通过CCD观察干涉条纹
　　测量温度变化对干涉条纹的影响。
　　
　　仪器特点；
　　通过CCD进行图像采集
　　采用半导体激光器（650nm、4mw）作为光源。
　　采用半导体制冷器进行温度调整和控制，温控范围：100C——400C
　　
　　设备成套性：
　　光学实验平台、半导体激光器、分束镜、七个自由度光纤耦合器、CCD摄像头＋监视器、光纤、光纤刀、光纤剥皮钳、半导体温控仪等。
　　
　　二、技术指标
　　光学实验平台（含桌）1200*800*80mm3.
　　半导体激光器635nm，3mW.
　　分束镜（含架）1：1，二维可调
　　半导体制冷温控仪：温控范围：100C——400C