X射线荧光光谱仪(EDX3600B)
价格:电议
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电 话:86-15992758676
手 机:86-15992758676
  配备真空腔和高性能真空泵,全自动真空控制系统,使真空测试过程更加智能化
  镀层厚度测量至0.005微米
  分析低含量的轻元素时,使用真空泵设备将空气抽出,使内部在真空状态下进行对轻元素的分析
  
  技术指标
  ※测量元素:从钠至铀等 75 种元素
  ※测量对象:粉末、固体、液体
  ※元素含量分析范围:1ppm-99.99%
  ※RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检出限达1ppm
  ※测量时间:60-200s
  ※能量分辨率为:140±5eV(德国产SDD探测器)
  ※测量:<0.05%
  ※管压:5-50kV
  ※管流:50-1000uA
  ※温度适应范围:15-30℃
  ※相对湿度:≤70%
  ※仪器功率:≤200W
  ※工作电压:AC 110V/220V
  ※三维自由超大样品腔设计,样品腔尺寸Φ320×180mm
  ※可同时分析24个元素
  ※重量:75kg
  
  配置
  X光管
  放大电路
  高低压电源
  双激光定位系统
  对被测样品可以放大100倍
  清晰观测检测部位
  计算机、喷墨打印机
  硅针半导体探测器
  高清晰摄像头,独特的光路增强系统
  专用软件,操作界面十分友好。