X射线荧光光谱仪(EDX3600B)
价格:电议
地区:
配备真空腔和高性能真空泵,全自动真空控制系统,使真空测试过程更加智能化
镀层厚度测量至0.005微米
分析低含量的轻元素时,使用真空泵设备将空气抽出,使内部在真空状态下进行对轻元素的分析
技术指标
※测量元素:从钠至铀等 75 种元素
※测量对象:粉末、固体、液体
※元素含量分析范围:1ppm-99.99%
※RoHS 指令规定的有害元素(限 Cd/Pb/Cr/Hg/Br)检出限达1ppm
※测量时间:60-200s
※能量分辨率为:140±5eV(德国产SDD探测器)
※测量:<0.05%
※管压:5-50kV
※管流:50-1000uA
※温度适应范围:15-30℃
※相对湿度:≤70%
※仪器功率:≤200W
※工作电压:AC 110V/220V
※三维自由超大样品腔设计,样品腔尺寸Φ320×180mm
※可同时分析24个元素
※重量:75kg
配置
X光管
放大电路
高低压电源
双激光定位系统
对被测样品可以放大100倍
清晰观测检测部位
计算机、喷墨打印机
硅针半导体探测器
高清晰摄像头,独特的光路增强系统
专用软件,操作界面十分友好。