CMI900 X射线荧光镀层测厚仪
　　
　　应用
　　CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用
　　
　　行业
　　用于电子元器件，半导体，PCB，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器……多个行业表面镀层厚度的测量
　　
　　技术参数
　　主要规格规格描述
　　X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统
　　空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
　　标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、AG等
　　功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）−标准 75W（4-50kV，0-1.5mA）−任选
　　装备有安全防射线光闸
　　二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
　　准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器
　　多种规格尺寸准直器任选：−圆形，如4、6、8、12、20 mil等−矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
　　测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm准直器）
　　在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm准直器）
　　样品室 CMI900 CMI950
　　−样品室结构开槽式样品室开闭式样品室
　　−样品台尺寸 610mm x 610mm 300mm x 300mm
　　−XY轴程控移动范围标准：152.4 x 177.8mm 还有5种规格任选 300mm x 300mm
　　−Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ程控时，152.4mm XY轴手动时，269.2mm
　　−XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
　　−样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
　　激光自动对焦功能
　　可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
　　计算机系统配置 IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机
　　分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink FP软件包
　　−测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
　　−基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品。
　　样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）
　　可检测元素范围：Ti22–U92
　　可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
　　贵金属检测，如Au karat评价
　　材料和合金元素分析
　　材料鉴别和分类检测
　　液体样品分析，如镀液中的金属元素含量多达4个样品的光谱同时显示和比较元素光谱定性分析。