薄膜测厚仪
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  主要用途及特点:
  本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度(不适用于压花的薄膜和薄片)、读数直观,使用方便。执行GB/T6672-2001标准。

  技术参数:
  测量范围:0-1㎜   
  分度值:0.001㎜    
  上测头曲率半径:15~50㎜ 
  测头对试样施加负荷:0.1~0.5N