剪切电子散斑干涉术是一种测量离面位移导数（derivative）场的激光干涉测量新技术。它除了电子散斑干涉术（electronic speckle pattern interferometry）的许多优点外，还有光路（optical path）简单，对测量环境要求低等特点。由于剪切电子散斑干涉是测量位移导数，因此，在自动消除刚体（rigid body）位移的同时对于缺陷受载的应变集中十分灵敏，因此被广泛地应用于无损检测（NDT，nondestructive testing）领域。该仪器使用大功率绿色半导体激光器作光源，具有电子散斑条纹实时处理软件，操作方便，便于携带，可用于现场测量。采用相移技术分析条纹，可获得离面位移导数场的全场数据。