膜厚测量仪(X-STRATA920)
价格:电议
地区:
电 话:86-755-33557633
手 机:86-15820409012
传 真:86-755-29171660
  应用
  X射线荧光分析仪X-Strata920是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
  行业
  X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力,可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920为这些行业提供了:
  以更有效的过程控制来提高生产力
  有助电镀过程中的生产成本小化、产量化
  快速无损地分析珠宝及其他合金
  快速分析多达4层镀层
  经行业的技术和可靠性,确保每年都带来收益
  操作简单,只需要简单的培训
  卓越的性能
  
  快速、的分析:
  大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供灵敏度
  简单的元素区分:
  通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
  性能优化,可分析的元素范围大:
  X-Strata920预置800多种容易选择的应用参数/方法
  卓越的长期稳定性:
  自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正,确保稳定的测试结果
  例行进行简单快速的波谱校准,可自动检查仪器性能(例如灵敏性)并进行必要的修正
  坚固耐用的设计
  可在实验室或生产线上操作
  
  坚固的工业设计
  三种配置选择
  固定样品台
  样品台位置固定
  经济、实用
  平面样品台设计,适合高度不超过1.3"(33mm)的样品分析
  加深样品台
  高度每英寸(25.4mm)可调,架构式样品舱可容纳
  高度6.3"(160mm)的样品
  程控样品台
  用于自动化测量
  方便根据测试位置放置样品,并精准定位测量点
  样品台尺寸:22"(D)x 24"(w),即560mm(深)x 610mm(宽)
  程控台移动距离:7"x 7",即178mm x 178mm