1、系统简介
　　本筛选台是参照日本JIS标准及国家标准，并利用"75"期间快速筛选成果研制而成。采用微电脑控制，利用二极管热敏参数作为失效判据，在3-5秒内对二极管的VF、IR、VDR进行常温和高温性测试筛选，并能剔除热阻大，瞬间热开路，高温漏电流大等热不稳定性器件，不仅可以替代常规测试，而且可取代直流老化和高温热测。
　　
　　2、主要技术指标：
　　正向压降VF 测试范围：0.1V—2V 误差±3％
　　测试条件：1mA—10A 误差±3％
　　反向漏电IR 测试范围：0.1uA—1mA 误差±3％
　　测试条件：5V—1000V 误差±3％
　　反向压降VDR 测试范围：20V—1000V 误差±5％
　　测试条件：1uA—1mA 误差±5％
　　加温电流 IT：0.1A—10A
　　加温时间 T：0—100S
　　3.主要功能：
　　3.1 能测试加温前、加温后的10多个参数，并能任意选择全部或部分选项，性自动检测；若选择常温测试每只只需1秒多。
　　3.2 可任意设定测试条件及判据，并保存在系统中，通过浏览方式任意调取。
　　3.3 测试结果在大屏幕液晶显示器LCD上显示并保存，超标器件自动声光报警。
　　3.4 测试结果通过统计可获得值、小值、平均值。
　　3.5 测试条件、失效判据、检测结果、测试时间、器件型号及编号可通过打印机打印输出。
　　3.6 操作简便，只需选择器件型号即可进入连续检测，测试口有否被测管自动识别。