台式膜厚测试仪* 技术指标型号：元素分析范围从铝（AL)到铀（U）。
* 可同时分析多24个元素或五层以上镀层。
* 元素分析检出限可达2ppm，分析含量一般为2ppm到99.9％。镀层厚度薄可达0.005um，一般在20um内（不同材料有所不同）。
* 小孔准直器（小直径0.1mm），测试光斑在0.2mm以内。
* 高移动平台（定位小于0.005mm）。
* 任意多个可选择的分析和识别模型。
* 尺寸：450mm*450mm
* 重量：32 kg
* 标准配置开放式样品腔。
* 精密二维移动样品平台，探测器和X光管上下可动，实现三维移动。
* 双激光定位装置。
* 铅玻璃屏蔽罩。
* 新半导体探测器。
* 信号检测电子电路。
* 高低压电源。
* X光管。

* 高度传感器保护传感器计算机及喷墨打印机。

台式膜厚测试仪作为一种在线测量厚度的精密仪器，在电镀工艺生产中占有非常重要的地位，直接影响到电镀产品的质量。镀层控制系统接收到膜厚仪提供的实事厚度偏差信号对物料挤出机、物料加热器进行控制。信号的准确和灵敏程度直接影响了镀层产品厚度的。
x射线膜厚仪通过吧高压直流电压加在x射线的两极，产生不同能级的x射线穿过被测物，比较被测物两端x射线的强度来进行在线厚度测量。