镀层膜厚分析仪1.用先进的X射线技术,可高效率低成本,小型的X-射线荧光光谱仪,操作简易但功能强大。
2.可分析元素由铝(13)到铀(92),并且具备视像显微镜及可测量小到ppm的范围,即使是较大的测量样品也可放在XY(Z)测量台上。
3.拾载的WinFTM v6软件,使仪器可以在没有标准片的情况下进行测量。
4.能够检测各种大小的样品，满足镀层厚度测量和材料分析。
5.新型号设计，快速分析（几秒）1-4层镀层厚度。
6.多款规格，例如标准样品台、加深样品台或自动程控样品台。
7.满足所有样品类型，开槽式样品舱可检测大面积样品，例如印制线路板等。

8.符合ISO3487和ASTM B568检测方法

镀层膜厚分析仪作为一种在线测量厚度的精密仪器，在电镀工艺生产中占有非常重要的地位，直接影响到电镀产品的质量。镀层控制系统接收到膜厚仪提供的实事厚度偏差信号对物料挤出机、物料加热器进行控制。信号的准确和灵敏程度直接影响了镀层产品厚度的。
x射线膜厚仪通过吧高压直流电压加在x射线的两极，产生不同能级的x射线穿过被测物，比较被测物两端x射线的强度来进行在线厚度测量。