仪器特性：
　　光学尺显示器解析可达1um，以提供使用者高保证。
　　采用高花岗石【精密级（00级）】底座，以提供机台稳定性之操作，提升工具显微镜之质量。
　　采两段式（粗微调）对焦系统，方便人员操作，以解决令人困扰的对焦问题。
　　采用高亮度、低温度同轴照明系统可避免待测工件受灯泡热度造成热膨胀之影响。
　　可透过计算机量测系统做复杂性及大量工件量测，并可透过量测系统来照相及量测数据计算机化，可将量测数值做成WORD、EXCEL报表。
　　
　　适用行业：
　　半导体、电子、晶圆封装、LCD、PCB、LED、连接器、导电架、电子零组件、精密加工、模具、冲压件、弹簧、刀具、塑料、轴承、汽机车零件业、端子，……。等。
　　
　　技术参数：
　　光学成像系统无限远光学系统，管镜焦距200mm；光学放大倍数 50x-500x；；
　　铰链式三目镜筒，30°倾斜，瞳距55-75mm；
　　高眼点，大视场目镜WF10X／22；长工作距离；五孔物镜转换器；
　　冷光源光纤反射照明器：150W
　　平场复消色差物镜2X／0.055，5X／0.14，10X／0.28，20X／0.29，50X／0.42
　　精密工作台 X，Y，Z工作行程：200x100x150mm；分辨率：0.001mm
　　仪器：±（2＋L／200）μm；重复性：2μm