一、产品
　　GWB−200JA型引伸计标定仪，是一种纯机械式的高位移测微仪器。依据JJG762−92引伸计检定规程要求，专门用于对各类引伸计的标定，也广泛用于位移传感器的检定及相应百分表、千分表的检定。
　　结构特点及读数方式
　　1、本仪器由精密微分测头及测量支架组成。该标定仪是积木式结构设计。将精密微分测头及支臂以多种方式或位置组合，同时配有加长立柱附件，配有圆柱、板、刀片等多种形式的分离试样，可以方便地进行多种规格型号引伸计的计量标定。用户还可以根据自己的测试特殊需要，配置专用配件进行精密微变形量计量。
　　2、精密微分测头由滑动量杆、量杆套筒、读数内
　　筒、读数外筒及高精密螺纹付组成。其量程25㎜；
　　小分度（游标分度）0.0002㎜；旋转外筒分度0.002㎜。
　　位移变化读数为：
　　L＝（a＋0.001b＋0.0001c）-（a0＋0.001b0＋0.001c0）
　　其中：a−内筒毫米刻线读数
　　b−外筒刻线读数
　　c−游标刻线读数
　　a0 b0 c0为相应位移变化前读数
　　
　　精密微分筒
　　二、各项技术指标
　　1、测量引伸计标距范围Lmax 500㎜
　　2、测量支座上支臂安装孔径φ10；φ28
　　3、微分测头读数内筒轴向刻度 0.5㎜/格
　　4、微分测头读数内筒游标刻度 0.0002㎜/格
　　5、微分测头读数外筒园周刻度 0.002㎜/格
　　6、高精密微分测头指标
　　标定仪示值误差：
　　量程0.5㎜以内≤0.5μm 误差
　　量程0.5㎜以上≤0.10%逐点相对误差
　　参照标准：
　　JJF1096-2002引伸计标定器校准规范
　　ISO9513：1999金属材料单轴试验用引伸计标定
　　JJG762-1992引伸计检定规程
　　可进行0.5级引伸计的标定
　　三、使用说明
　　请依据JJG762−92引伸计检定规程要求，进行引伸计的检定：
　　1、根据被检引伸计的规格型号及测试的试样规格，选择与测试试样基本一致的分离试样。
　　2、调整两测量支臂的位置，获得适宜的检定空间；调整两测量支臂上偏心卡簧位置以使两分离试样保证同轴；调整测微头与下底座的距离，以保证测微头的有效行程。一切调整好后注意旋紧各个所需固紧部位，在检定过程中除准许运动位移的部分外，都不准许有任何滑动或松动。
　　3、引伸计检定范围及检测点的选择与测试：
　　（1）检定范围应根据引伸计需要测试材料的技术参数决定。例如，使用50㎜标距引伸计测试钢材试样的σP0.2技术数据，那么请您选择1㎜的检定量程。如果测量n值则需要检定25㎜的检定量程。
　　（2）对检定点的选择，一般每个范围不少于8点。对于上述选例在1㎜的检定量程内，检定10点，即每0.1㎜检一点。
　　（3）检定引伸计时一定用整数刻度倍读法，不要用游标估算读数或小数尾数读数，因为每的十点读数已造成了读数的疲劳，估算读数或小数尾数
　　读数会加剧测量误差的产生。而整数单刻线对整读法清晰简单准确，出现误差的机率小，即便出现也会及时发现，因为整数刻度倍读数的误差，其引伸计误差值也会成倍数增加，这种粗大误差会被很快及时发现。
　　4、加长立柱的使用：在使用基本立柱检定引伸计时，无法保证该引伸计的标距空间时，取掉基本立柱上保护帽，将加长立柱插入主立柱对准V型槽，旋紧上螺丝。一定要固紧后，方可使用。