上市时间：2009年3月
创新点:1.附带FP实际金属、贵金属、RoHS分析、无卤化塑胶回归的检测曲线，集多种应用于一身。该曲线采用大量金属及贵金属标准样品绘制，代表性强，实用性强，准确度高。分析数据可同时显示K金值及含量。
2.采用高分辨，高计数率，电制冷的SDD检测器，实际分辨率160eV，计数率高达250,000cps，非常适合高含量样品的分析。该计数器具有先进性及维护简单，无需繁琐而危险的液氮添加过程。
3.激光配合CCD摄像机双定位，样品分析点可视，可调。定位高。分析点的照片可截屏，出具时可以粘贴在中。
4.分析速度快，可在180秒内完成各类样品的分析任务
5.可选配狭缝交换器，测试点的尺寸可调，由0.2毫米至3.3毫米。可同时分析同一样品的各个部分，一般分析点的尺寸为1毫米。
6.可选配XYZ微米级全自动样品台，完成点，线，面扫描。测量过程可同时分别完成多个样品的分析。
7.超大样品室，可完成超大样品的分析，样品的尺寸可以达到300*200*150mm（长*宽*高）。同时可完成超小样品1mm样品的分析
详细信息仪器简介：
　　在工业及科研领域，经常需要对样品进行非破坏性的元素分析，同时对分析面积及灵敏度具有苛刻的要求，如RoHS分析，贵金属检测等。 黄金珠宝、牙科合金材料及其他稀有金属的分析要求高，非破坏性而且测量点小。德国斯派克分析仪器公司新推出的SPECTRO MIDEX　X 射线荧光能谱仪正是满足了这一要求，可迅速、准确地提供分析数据。根据市场要求，德国斯派克分析仪器公司对仪器进行了扩展而优化，使SPECTRO MIDEX 仪器在分析性能和使用灵活性方面独树一帜。
　　SPECTRO MIDEX 采用空冷、低能量X射线管和高分辨率的检测系统，集准直、聚焦、样品激发于一体，是功能强大的金属分析仪SPECTRO MIDEX　适合分析体积很小的稀有金属或面积较小的样品。样品室配有易于调节的样品台。通过20倍变焦摄像机可地确定测量位置。仪器配有计算机和化的软件，使操作极为简便。测量点直径为0.7mm,样品的总测量时间不超过100秒。在测定稀有金属合金中的金含量时,样品的测量为0.15%。SPECTRO MIDEX　也可满足快速分析的需要，在2分钟内可完成从铝到铀的所有数十种元素的分析。
　　SPECTRO MIDEX 不仅仅适用于珠宝行业、贵金属检验机构，海关商检、造币工业等，还可完成其它分析任务如：非破坏性检查，贵金属分选，电子线路及电气元件的分析等。
技术参数：
激发
- Mo 靶X光管
功率：30W,电压：48kV
- 测量点尺寸
Midex SD: 1 mm, Midex LD: 1.2 mm
样品室
- 可显示样品的摄像系统(可调焦)
- 手动调节样品台，样品定位简便
- 马达驱动移动的XYZ样品台，
行程240x178x160 mm/9.4x7.0x5.3’’(宽x深x高)，
样品重量：3kg/6.6 lbs
检测器
- Peltier 冷却的Si 漂移检测器:
Midex SD: 10 mm2, Midex LD: 30 mm2
- 以Mn Kα线，在测量计数率为
10，000脉冲计数时， 能量分辨率：FWHM< 160 eV
- 微处理器控制的检测器和读出电路
- 脉冲计数率可达250，000 cps
分析
- 用于合金元素分析的基本参数程序FP +
- 塑料及复合材料的RoHS指令检测
环境条件
- 周围环境温度：5-30°C （41-85°F）
在20-25°C （68-77°F）下，可达到标定仪器性能
- 在 25°C (77°F)下相对湿度: 10-80 %，无冷凝，无蒸气腐蚀，防尘
主要特点：
SPECTRO MIDEX X射线荧光能谱仪是新推出的第三代产品，不仅可对样品的微小区域进行快速无损的检定，还可对超大样品的表面（面积可达EC标准线路板规格的2倍， 233x160 mm）进行元素分布分析。