产品介绍：
　　本着对插接件等细小结构件的单镀层和多镀层厚度的测量，Ux-700更小样品测试腔的设计，带有聚焦光点的准直器，高分辨率的探测系统，众多条件的选择，保证测试结果的准确性。
　　X射线荧光技术测试镀层厚度的应用，提高了大批量生产电镀产品的检验条件，无损、快速和更准确的特点，对在电子和半导体工业中品质的提升有了检验的保障。
　　Ux-700镀层测厚仪配备了XY轴微移动平台，可以通过鼠标的点击操作，选择样品的多点测试，特别适应于细小结构多种不同镀层材料的测试。
　　Ux-700镀层测厚仪具有高清晰、高放大倍数的摄像设备，测试样品的部位清楚明了，同时摄像设备拍抓测试部位的图片，和测试数据结果一同出现在测试中。
　　Ux-700镀层测厚仪采用了新技术FlexFp-Multi，不在受标准样品的限制，在无镀层标样的情况下直接可以测试样品的镀层厚度。

　　产品指标：
　　测厚技术：X射线荧光测厚技术
　　测试样品种类：金属镀层，合金镀层
　　测量下限：0.003um
　　测量上限：30-50um（以材料元素判定）
　　测量层数：10层
　　测量用时：30-120秒
　　探测器类型：Si-PIN电制冷
　　探测器分辨率：149eV
　　高压范围：5-50Kv，50W
　　X光管参数：5-50Kv，50W，侧窗类；
　　光管靶材：Mo靶；
　　滤光片：专用镀层滤光片
　　CCD观察：260万像素
　　微移动范围：XY15mm
　　输入电压：AC220V，50/60Hz
　　测试环境：非真空条件
　　数据通讯：USB2.0模式
　　准直器：？0.5mm
　　软件方法：FlexFP-Mult
　　工作区：开放工作区自定义
　　样品腔：70*20mm
　　整机重量：38kg

　　镀层测厚方法：
　　1.磁性涂层测厚法
　　使用磁性测厚法可测铁、钢导磁金属上面的所有非导磁金属和所有非导电层的厚度，如铁上镀铜、锌、铬、金、银等，涂的油漆、塑料、橡胶、磷化膜、玻璃钢等。
　　2.涡流层层测厚法
　　可以测量非导磁导电金属上面非导电涂层的厚度，如不锈钢、铜、铝金属上的油漆层、氧化膜、磷化膜、玻璃钢、橡胶等图层的厚度
　　3.X射线荧光法
　　所有金属材料/非金属材料上单金属成分、2元或多元合金材料的单层和多层厚度的测试，同时可以测试镀层材料的合金成分含量比例。
　　常用单位：
　　微米（um），微英寸（u‘’）俗语“迈”，密耳（mil）
　　1um＝39.4迈，1um＝0.04mil