博曼半导体X-RAY膜厚仪 Bowman博曼膜厚测试仪特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。测量更小、更快、更薄MicronX 比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的镀层和更加快速。这是由包括准直器、探测器、信息处理器和计算机等部件在内的一整套系统完成的。博曼半导体X-RAY膜厚仪 Bowman博曼膜厚测试仪可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。
　　二元合金层：例如Fe上的SnPb，ZnNi和NiP合金。
　　三元合金层：例如Ni上的AuCdCu合金。
　　双镀层：例如Au/Ni/Cu，Cr/Ni/Cu，Au/Ag/Ni，Sn/Cu/Brass，等。
　　双镀层，其中一个镀层为合金层：例如Cr/NiCu/Plastic；Fe。Bowman博曼膜厚仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.让客户满意，为客户创造的价值是金东霖追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图。