博曼台式膜厚仪规格描述
　　X射线激发系统：垂直上照式X射线光学系统
　　准直器程控交换系统：可同时装配4种规格的准直器
　　测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。                        
　　基本分析功能采用基本参数法校正。                  
　　样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
　　博曼台式膜厚仪可检测元素范围：AL13 – U92
　　可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
　　贵金属检测，如Au karat评价                                        
　　材料和合金元素分析，
　　材料鉴别和分类检测                                        
　　液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
　　多达4个样品的光谱同时显示和比较                                        
　　元素光谱定性分析
　　高、稳定性好
　　强大的数据统计、处理功能
　　测量范围宽
　　NIST的标准片
　　服务及支持
　　（1）无损分析：无需样品制备
　　（2）经行业的技术和可靠性，确保每年都带来收益
　　（3）操作简单，只需要简单的培训
　　（4）分析只需三步骤
　　（5）杰出的分析准确性和性
　　（6）在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
　　（7）使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。
　　如果您有什么问题或要求，请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快！