薄膜测厚仪
价格:电议
地区:江苏省 苏州市
电 话:86-512-57900888-601
传 真:86-512-57900688
  尺寸  190 x 265 x 316 mm 
  重量  12Kg 
  类型  手动的 
  测量样本大小  ≤ 4"  
  测量方法  非接触式 
  测量原理  反射计 
  特征  测量迅速,操作简单
  
  非接触式,非破坏方式
  
  的重复性和再现性
  
  用户易操作界面
  
  每个影像打印和数据保存功能
  
  可测量多达3层
  
  可背面反射
  
  活动范围  150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离) 
  测量范围  200Å~ 35㎛(根据膜的类型) 
  光斑尺寸  20㎛ 典型值 
  测量速度  1~2 sec。/site 
  应用领域  聚合体: PVA, PET, PP, PR 。。。
  
  电解质: 
  
  半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS。。。
  
  选择  参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)  
  探头类型  三目探头 
  nosepiece  Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt 
  照明类型  12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer