薄膜测厚仪
价格:电议
地区:江苏省 苏州市
传 真:86-512-57900688
尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 4"
测量方法 非接触式
测量原理 反射计
特征 测量迅速,操作简单
非接触式,非破坏方式
的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射
活动范围 150 x 120mm(70 x 50mm 移动距离)
测量范围 200Å~ 35㎛(根据膜的类型)
光斑尺寸 20㎛ 典型值
测量速度 1~2 sec。/site
应用领域 聚合体: PVA, PET, PP, PR 。。。
电解质:
半导体: Poly-Si, GaAs, GaN, InP, ZnS。。。
选择 参考样品(K-MAC or KRISS or NIST)
探头类型 三目探头
nosepiece Quadruple Revolving Mechanism with Inward Tilt
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device & Transformer