激光散斑测量横向微小位移实验仪(F-JG1150)
价格:电议
地区:北京市
产品介绍
实验内容及相关科目:
观察激光散斑图,了解散斑的形成原因和特点。
掌握二次曝光测量微小位移的方法和原理。
通过实际测量,验证位移量与散斑图象的关系公式。
仪器特点:
采用半导体激光器作为光源(650nm、4mW)。
自行搭制光路拍散斑图,并对散斑图象进行测量、分析。
设备成套性:
光学实验导轨、半导体激光器、扩束镜、准直镜、干板架、一维位移架、激光功率指示计、毛玻璃等。
技术指标
光学实验导轨1000mm.
半导体激光器635nm,3mW.
二维可调扩束镜25倍,可调范围:±2.5mm.
大一维位移架+12档光探头:位移范围100mm,0.02mm,光栏直径:0.5、1、2、3、4、6mm.光栏宽度:0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm.