产品介绍
　　实验内容及相关科目：
　　可观察细丝、单缝、双缝、多缝、
　　小孔的衍射现象，测量其光强分布。
　　验证波长、缝宽与光强分布的关系
　　光栅公式、海森堡测不准原理。
　　  
　　仪器特点：
　　以半导体激光器作为光源，光功率指示计和精密位移机构测量光强发布，较读数显微镜更加客观、准确。
　　光探头：含12档光栏盘，通光孔径分别为圆孔和狭缝。
　　圆孔直径为0.5　1.0  2.0　3.0　4.0　6.0　mm；缝宽0.2　0.3　0.4　0.8　1.2mm.
　　缝元件：含细丝、单缝、双缝、多缝、光栅等多种结构。
　　大一维位移架：横向移动度为0.02mm，移动范围≥100mm.
　　设备成套性：
　　
　　光学实验导轨（1200mm）、半导体激光器、小一维＋缝元件、激光功率指示计、一维位移架＋十二档光探头等。
　　技术指标
　　光学实验导轨1200mm.
　　半导体激光器650nm，4Mw，。
　　激光功率指示计：三位半数字表头，量程：200μW，2mW，20mW，200mW，可调档。小分辨率0.1u　W.
　　一维可调导轨滑块：可调范围：10mm.
　　大一维位移架＋12档光探头：位移范围100mm，0.02mm，光栏直径：0.5、1、2、3、4、6mm.光栏宽度：0.2、0.3、0.4、0.8、1.2mm.