万深SC-E型种子大米外观品质检测分析仪性能优点：
　　（1）专有的向导学习，使非者快速上手。能准确地自动分割团状粘连的种子图像，自动计数≥99%，监视修正<1%，即达100%正确。
　　（2）适应检测种粒直径0.25～20mm，计数速度为20～300粒/s
　　（3）可裁剪掉污染目标区，能根据种子形态、大小差别，自动剔除杂质等，并导出为EXCEL表以便形成统计分布图。
　　（4）可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数。清晰、可直观验证的计数自动标记，可自由选择标记数字/符号，及标记的颜色、大小。
　　（5）种子图像、检验结果可保存或导出到EXCEL表，满足日常搜索、管理的需要；可存储种子图像及全部统计结果，免除了繁琐的记录工作，避免错误。
　　（6）提供条码输入接口，插上条码枪即可输入条码。保证卓越性能前提下，不仅提供产品，还提供优解决方案，让您满意。
　　万深SC-E型种子大米外观品质检测分析仪技术参数：
　　1.快速形态分析：40秒内自动精准分析测出25g稻谷、30g大米、40g小麦、80～150g玉米或豆类等种子的每粒面积、长径、短径、长宽比、圆度、等效直径（长度测量误差≤±0.05mm，长宽比测量误差≤±0.05，重现性误差≤±0.02），以及千粒重、整精米数量、整精米率（30g样本的测量误差≤±1.0%，重现性误差≤±0.25%）、30g样本的大米垩白度/率测量误差≤±1.0%、重现性误差≤±0.25%，自动检测碎米率、透明度、异品种粒、不完善粒（未成熟粒、黄粒米、杂质量），以及糯米的阴米率、病斑或黄变率。还可分析大米的碾米、裂纹率，以及糙米胚芽率。与国标GB/T1350稻谷、GB/T17891优质稻谷或GB1354大米相对应，能检测各项指标的重量比和粒数比。
　　2.具可测量种粒直径范围0.3-20mm（厚度15　mm），自动测量≥99%，交互修正后准确率达100%，计数分析速度1200～18000粒种子/分钟。每次扫描能成像30克大米等颗粒，将种子图像全部扫描到一个目录下，选合适的【批量处理】向导自动完成分析与结果输出。48分钟能全自动检测分析727个被测大米样品图像（其总量达727*30g＝21810g），保存到EXCEL表内，并保留标记图。稻种等的考种计数和秕谷粒分析正确率，经极快速地可视化验证后，可达100%正确。自动分析性能在国内外可比较的公开PK中处于水平。
　　3.具具有对被分析目标颜色、形状进行自动学习，并实现自动分类的特性。可进行人工修正下的二次自动学习，达到级的分析水平。可任意组合的批操作向导，实现一键自动完成计数与各项分析、标记，并实现鼠标增减统计、区域选择统计、辅助裁剪修正、种子大米的粘连分割、输入重量后自动换算取得千粒重等；可裁剪或擦除掉污染目标区，删除任意区域内的误选种子。可合并误分割，及对自动识别后的黄米粒和其它目标做类别转换修正。
　　4.具有样本条码、电子天平RS232重量数据的自动输入接口，电脑插上条码枪即可刷入样本编号；在电子天平加上被测样本，一旦稳定即出重量数据和千粒重数据，不需按天平的打印键。能折算掉混入的秕谷重量，自动算出实粒千粒重。能自动测出参数比较特别玉米穗长、穗粗、秃尖长、左右穗缘角、穗行角、平均粒高、粒数、粒形、截面籽粒排数、穗粗、轴粗，以及截面上的平均粒长、平均粒宽参数等。还能测叶片的经脉密度。
　　5.统计效果监视：监视和修正种子、大米分析的。
　　6.形状识别统计：根据种子大米的形状特性筛选，分别分析特定对象的参数。
　　7.种子及大米粘连分割：自动分割相互粘连的种子及大米，用户可选择分割或不分割。
　　8.自动杂质剔除：根据尺寸等方面的区别，自动剔除微小杂质。
　　9.参数自动换算：输入重量后自动换算出实粒的千粒重。
　　10.测量功能：
　　尺寸标定：自带标定功能，实现半自动的尺寸标定，XY向可分别标定修正；
　　长度测量：具有跟随放大镜功能，通过鼠标拖动测量；
　　可以单独进行目标的长度测量。
　　11.数据存储：图像可保存（可保留原图/结果图）；自动形成总报表，统计分析结果能输出至Excel表；
　　万深SC-E型种子大米外观品质检测分析仪仪器规格与配置：
　　大米分析专配光学分辨率4800×9600、A4加长的Microtek　ScanMaker　i800真彩双光源扫描仪（电脑另配）；
　　对于考种分析，建议加配快速拍照成像装置、带RS232接口的电子天平。