LC-Y型高清晰LED芯片计数分析仪系统
　　该套LC-Y拍照成像型计数分析仪器整合了高清晰度数字技术来鉴别困难的计数问题。该LED芯片专用计数仪通过高速的图像获取及视觉识别处理，准确、快速地计数LED芯片，操作简单，使用方便。用于LED芯片外延片面积测试，同样也适用于Si、Ge、Gap、GaAs、GaAlAs、GaN、四元素等抛光片外延片的面积测试。
　　该仪器包括新型的照明配置，以确保均匀一致的照明和LED目标增强。软件能导出每次计数分析的结果至EXCEL表等，可兼做自动二极管芯片计数。
　　
　　LC-Y型高清晰LED芯片计数分析仪系统产品参数：
　　1.成像特性
　　图像拍摄：真彩1400万像素CMOS芯片，非球面12mm高保真镜头
　　像素分辨率：110mm/3288像素＝0.0335mm.
　　图像对焦：手动对焦，可级地精细成像在任意LED芯片平面上
　　图像调整：具有图像亮度、对比度、饱和度调整功能，调整值自动记忆保存
　　图像观察：具有任意放大、缩小、局部观察功能
　　2.无影光源：
　　采用背光无影照明成像方式，可确保均匀一致的照明和LED芯片成像
　　
　　3.检测统计：
　　A 全自动LED芯片计数：可计数红、绿、蓝等各色LED芯片总数，显示和输出计数结果
　　B 适用芯片尺寸：可计数分析和定位的不透明LED芯片≥5mil（或0.127mm），40×40、11×11、10×10、9×9、8×8、7×7、5×5mil，或此范围内的矩形芯片均可用。
　　C 自动计数误差：方片≤0.1%；大圆片≤0.2%
　　D 不需要撕下工艺保护黄纸或蓝膜。软件可配合用户修改。芯片计数量≥10万pcs
　　E 计数速度：5～10万LED芯片/秒
　　F 全程电脑控制，操作简便；计数准确、快速、高效，只点一下即完成全部计数，提供条形码自动输入接口（插入条码枪即可使用）。
　　实测2"圆片，计数6.46万粒LED芯片的耗时为0.219秒，能分析计数局部粘连在一起的芯片，手工修正率≤0.1%，批量检测每小时快可达计数600个组板，或任何形状的碎片面积进行计数测试
　　简便易用：真正一键式操作，鼠标一点，结果即现。软件界面友好，提供帮助功能
　　辅助删补：自动估算特性，以确保接近100%正确率
　　目标区的个性化计数区：对视野工作区预选直径范围或矩形范围内的LED芯片计数
　　
　　4.计数分析导出：
　　分析图像和分析结果可导出存储，以便进行产量统计和交易凭证。预留数据输出接口，全面兼容EXCEL、ACCESS、SQL等数据库软件
　　5.仪器规格与配置
　　适用视野工作区尺寸：50×50mm～110×110mm
　　配套设备：LED芯片自动计数仪1台（包含1400万像素彩色数码相机1套）；LC系列电子版用户手册1本，软件锁1个、软件系统光盘1张。（电脑需另配，内存≥2GB）
　　仪器总尺寸、总重量：宽×深×高＝37cm×31cm×34cm，～5Kg