半导体线路板膜厚测试仪
价格:电议
地区:广东省 深圳市
电 话:86-0755-29371655
半导体线路板膜厚测试仪仪器的特长:广泛应用型可测元素:AL~U
X射缐管:小型空气冷却型高功率X射线管球(W靶)
管电压:45kV
管电流:1mA Be
博曼膜厚测试仪窗滤波器:滤波器:A1-
自动切换二次滤波器:Co-
设备遵循ASTM B568,DIN ENISO 3497国际标准,主要基于控制软件的镀层厚度测量和材料分析的X-射线系统.
采用全新数学计算方法,采用新的FP(Fundamental Parameter)、DCM (Distenco Controlled Measurement)及强大的电脑功能来进行镀层厚度的计算,在加强的软件功能之下,简化了测量比较复杂

镀层的程序,甚至可以在不需要标准片之下,一样精准测量。
博曼膜厚测试仪主要用于镀层或涂层厚度的测量,而且特别适合于对微细表面积或超薄镀层的测量。欢迎随时来电咨询或亲临我司测试及参观!!! 博曼膜厚仪采用真正的基本参数原理(FP)来测量厚度.
多24种镀层。 分析多达4种元素。 分析电镀溶液中的金属离子浓度.应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.
博曼膜厚测试仪自动切换检测器:比例计数管
样品观察:CCD摄像机
对焦方式:激光自动对焦
测定软件:世界上的FP法。数学计算测量方法 .
安全机能:测量室门自锁功能 Z轴防冲撞功能 仪器自诊断功能
博曼膜厚测试仪仪器介绍: 测量数据与Word和Excel链接自动生成和数据处理

镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量,我公司是博曼(bowman)仪器的大陆代理商,销售:复合镀层测厚仪、X射线元素分析仪、线路板铜厚测量仪、合金分析仪、产品RoHS检测仪,镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,无损测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪.
bowman膜厚测试仪优势有:
1.高性能、高、长期稳定性、快速的分析带来生产成本优化,测定元素厚度,优化的性能可满足广泛的元素测量.
2.坚固耐用的设计:可靠近生产线或在实验室操作,生产人员易于使用.
3.简单的校准调试:bowman膜厚测试仪在没有标准片时,经验系数法或基本参数法可以提供简单可靠的定量结果,方法建立只需几分钟,我们提供标准片以确保度(A2LA和ISO/IEC17025),预置了多种校准参数.