XT—50型冲击试样投影仪是我公司根据广大用户的实际需要和GB/T229—2007《金属夏比冲击试验方法》中对冲击试样缺口要求而开发的一种专用于检验夏比V型和U型缺口加工质量的光学仪器，该仪器是利用光学投影方法将被测的冲击试样V型和U型缺口轮廓放大50倍后投射到投影屏上，与投影屏上的冲击试样V型和U型缺口标准样板图对比，以确定被检测的试样缺口是否合格。其优点是操作简便，对比直观。


二．方案描述：

本投影仪光源发出的光线经聚光镜照射到被测物体，再以物镜将被照射物体放大的轮廓投射到投影屏上。根据需要，本仪器为单一投射照明，光源通过一系列光学元件投射在工作台上，再通过一系列光学元件将被测试样缺口轮廓清晰地投射到投影屏上。物体经二次放大和二次反射成正像，在投影屏上所看到的图形与实际试样放置的方位一致。将被测度样放在工作台上，旋转工作台升降手轮，调焦至影像清晰，再调整圆工作台和纵横向调节手轮，使已放大了50倍的试样V型（或U型）缺口投影图与本仪器所提供的也放大了50倍的冲击试样缺口标准尺寸图对比，即判断出冲击试样V型（或U型）缺口的几何尺寸加工质量。

三．主要技术参数：

1、投影屏直径：180mm                  

2、光源（卤钨灯）：12V     100W
1.3、工作台尺寸：                      

a)       方工作台尺寸：110×125mm    

b)       圆工作台直径：90mm                  

c)       工作台玻璃直径：70mm

4、工作台行程：

a)       纵向：±10mm

b)       横向：±10mm

c)       升降：±12 mm（无刻度）

5、工作台转动范围：0～360°（无刻度）

6、电源：220V 50Hz

7、外形尺寸：515×224×603mm          

8、重量：约18kg

9、仪器放大倍率：       50x

物镜放大倍率：       2.5x

投影物镜放大倍率：   20x