产品功能：
　　用以测试太阳能级硅材料和硅片的少数载流子寿命
　　
　　产品特点：
　　采用微波光电导衰退法；拥有国家发明；
　　采用红外大功率单色激光器；
　　测试数据一致性好。
　　
　　主要参数：
　　测试范围：单片或块状硅材料；扩散形成P-N后的太阳电池
　　测试方式：无接触，单点测试
　　少子寿命：0.1um-1ms
　　测试速度：2秒／点
　　测试不重复度：≤2％