HP4284A精密LCR测试仪是用于元件和材料测量的价廉物美的仪器.它们通过提供、高吞吐量的测试方法来改变元件的质量.20Hz到1MHz宽的测频范围和优良的测试信号,使HP4284A的测试元件时符合通行的测试标准如IEC/MIL标准(国际电工委员会或美国军用标准),且工作在模拟所使用的工作条件下.无论在研究开发、生产、质量保证中还是进货检验,HP4284A能满足全部LCR测量要求.
　　技术指标(全面的技术指标请参阅技术资料)
　　被测参数Z|-θ,|Y|-θ,R-X,G-B;C-D,Q,ESR,G,Rp;L-D,Q,ESR,G,Rp;偏差和%偏差
　　测量电路模式:串联和并联
　　量程转换:自动和手动
　　触发:内部、外部、手动和总线(HP-IB)
　　延迟时间:0~60.000s,以1ms步进
　　测量终端:四端对
　　测试电缆长度:
　　HP4284A:标准:0和1m;带选件006时:0、1、2和4m
　　积分时间:短、中等和长取平均:1~256,可程控
　　测试信号HP4284A:20Hz~1MHz±0.01%,8610个可选择频率
　　测试信号方式标准:分别在开路或短路的测量端,而不是在被测件上对选定的
　　电压或电流编程恒定:维持被测件上选定的电压或电流,而与器件阻抗和变化无关.
　　测试信号
　　电平(rms)标准恒定