半导体元器件静电放电发生器
价格:电议
地区: 北京市
电 话:86-10-52483163
  产品介绍
  静电放电发生器专门为IC、LED等半导体器件的抗静电测试而设计,仪器集成人体放电模式(HBM)和机械放电模式(MM)通过更换阻容模块来实现两种测试功能。
  标准
  MIL-STD-883E、METHOD 3015.7、EIAJED-4701ConditionA、EIAJED-4701ConditionB、GJB-548A-3015、SJ/T11394、SJ/T11399
  
  优点
  1.超大液晶显示,智能控制高压输出,体积小,重量轻,操作方便;
  2.内置温湿度传感器,及时记录现场试验环境;
  3.电子式高压电源,电压稳定高;
  4.内置单片机控制,稳定可靠,操作方便;
  5.主开关采用美国原装进口;
  6.正负极性自动切换;
  7.RS-232接口,PC控制操作
  
  参数
  型号
  ESD-606G
  
  项目
  MIL-STD-883E
  METHOD3015.7 IEC747-1
  EIAJED-4701 ConditionA
  
  输出电压
  0—8KV±5%
  
  输出电压极性
  正/负
  
  放电电容
  人体模式:100pF
  机械模式:200pF
  
  放电电阻
  人体模式:1.5kΩ
  机械模式:0 Ω
  
  工作形式
  放电时间间隔在0.1~99.9s之间,
  
  操作方式自由切换
  
  单次放电,连续放电,手动操作,自动放电
  
  放电次数设定
  1~9999
  
  放电间隔
  0.1~9.9s
  
  工作电源
  AC220V±10%,50Hz
  
  环境温度
  15-35℃
  
  外形尺寸
  466×356×186mm