比表面及微孔分布分析仪V-Sorb 2800TP是金埃谱科技自主研发的全自动智能化比表面积和孔径分析仪器，采用静态容量法测量原理，众多科研院所及500强企业应用；相比国内同类产品，金埃谱比表面及微孔分布分析仪多项技术的采用使产品整体性能更加完善，测试结果的准确性和一致性进一步提高，测试过程的稳定性更强，金埃谱比表面及微孔分布分析仪达到国际同类产品先进水平，部分功能超越国外产品。
　　
　　全自动比表面及微孔分布分析仪技术参数
　　测试方法及功能：真空容量法（真空静态法）；吸附及脱附等温线测定；样品真密度测定；BJH介孔分析-总孔体积及孔径分布分析；t-plot图法微孔分析；MP法微孔分析；HK微孔孔径分布；SF微孔孔径分布；Langmuir法比表面积测定；BET法比表面积测定（单点及多点）；平均粒径估算，t−plot图法外比表面积测定
　　测定范围：0.01（m2／g）--至无上限（比表面积）；0.35nm-2nm（微孔）；2nm-500nm（中孔或介孔）
　　测量：重复性误差小于1.5％
　　
　　真空系统：全不锈钢微焊真空管路系统，接头采用全金属VCR连接，限度减小管路死体积空间的同时，可长时间维持高真空度，VCR方式全金属连接真空漏气率可达1x10−10（Pa﹡m3／s）
　　样品数量：同时进行2个样品分析
　　
　　压力测量：采用压力分段测量的进口双压力传感器，显著提高低 P／Po点下测试，有利于微孔孔径分布测量。0-1000 Torr（0-133Kpa）；0-1 Torr（0-133pa）
　　压力：进口硅薄膜压力传感器，达实际读数的0.15％，优于全量程的0.15％，远高于皮拉尼电阻真空计（一般误差为10％-15％）
　　真空泵：采用德国原装进口免维护分子泵（原装进口），二级机械式真空泵
　　分压范围：P／Po 准确可控范围达5x10−8−0.995
　　极限真空：机械泵--4x10−2Pa（3x10−4Torr）；分子泵--5x10−6Pa；
　　
　　全自动比表面及微孔分布分析仪特点
　　
　　A.比表面及微孔分布分析仪真空系统
　　1）的一体化集装式管路系统，采用进口集装管路，显著减少管路连接点，大大降低漏气率，提高极限真空度；
　　2）模块化结构设计，一体式集装管路，需人工进行连接的部件少，有利于根据用户需求按需配置及后期功能扩展，有利于维修更换；
　　3）采用德国原装进口的真空泵和分子泵，噪音小，运行稳定，防油返功能卓越，极限真空度高，可达4x10-2Pa（3x10-4Torr），分子泵--5x10−6Pa.
　　
　　B.比表面及微孔分布分析仪控制系统
　　
　　1）采用广泛应用于工业控制系统中的可编程控制器电磁阀控制系统，抗干扰能力强，稳定性大大提高，安装及拆卸都非常方便；
　　2）独特设计的测试系统管路和样品处理管路分离结构，有效防止样品处理过程中产生的杂质对测试管路的污染。
　　
　　C.比表面及微孔分布分析仪提高测试措施
　　
　　1）采用与同类进口产品相同品牌的高硅薄膜压力传感器，压力测量为相应读数的0.15％，远远优于0.15％的全量程（FS）传感器；
　　2）与国外同类产品类似，采用0−1Torr和0−1000Torr双压力传感器，对测试范围内的压力采用分段测量，大大降低了低真空下的测量误差，0−1Torr的硅薄膜压力传感器远高于相同量程的皮拉尼电阻真空计（一般误差为10％-15％）；
　　3）的一体化集装式管路系统，采用进口集装管路，显著减少管路连接点，大大减少死体积空间，有利于降低测量误差；
　　4）的步进式液氮面控制系统，确保测试全程液氮面相对样品管位置保持不变，彻底消除因死体积变化引入的测量误差；
　　5）独特设计的抽气及进气控制系统，有效防止样品抽真空和进气过程中的飞溅，确保测试气路的清洁和样品质量无损失，保护高压力传感器免受压力巨变可能导致的零点和线性漂移。
　　
　　D.比表面及微孔分布分析仪数据采集及处理
　　
　　1）采用高及高集成度数据采集模块，连接方便，误差小，抗干扰能力；采用业界标准的485通讯模式，有利于设备扩展和互连，可方便转换为所需的RS232和USB通讯模式；
　　2）多种理论计算模型数据分析，为用户提供全方位的材料分析方案；强大的测试数据归档保存，查询系统，有利于用户数据管理。