能量分散型荧光X射线元素分析仪　JSX-3400RII
　　JSX-3400RII是日本电子株式会社推出的08年新一代高性能能量分散型荧光X射线元素分析仪。该设备具有出众性能指针，不仅能很好对应RoHS指令、ELV指令和其它环境指令相关元素分析，还对卤素Cl高测试分析。能同时达到无卤测试及ROHS测试。
　　型录
　　
　　
　　
　　主要特点
　　
　　1.实现高灵敏度*微少成分的分析*短时间测定！
　　I　采用新光学系统与高分辨率　Si（Li）型检测器。检测器分辨率保证在149eV以下。（业界
　　的保证分辩率）。
　　II　新开发的针对RoHS用X射线滤波器。减除了X射线管发出的干扰波峰以外，实现了波
　　峰背景的低减与避免共存元素影响。
　　2.内置标配塑料和金属的检量线。用户不需要再做！
　　I　通过设备的校正功能，配置各种检量线长期使用完全有效。一般的保守也特别简单。
　　II　可针对Cl的检量线，检测极限可达9个PPM，达到无卤测试要求。
　　3.简单方便的操作系统
　　2　I　按一键就完成测定！自动保存结果。一键生成
　　4.材料元素　Monitoring　系统。
　　I　实现样品形状/厚度/面积和材料性质补正都自动进行。在业界多补正功能。满足样
　　品基材多样性需求。
　　5.采用300mmφ大型样品室，自动样品样品仓门。
　　3　I　大样品可以直接放入样品室。自动样品仓门更好密封样品室。
　　
　　
　　其他功能
　　
　　
　　1.分析结果软体：测试自动保存结果，并可一键生成。（标配）
　　
　　
　　
　　
　　
　　
　　→
　　
　　
　　2.镀锡分析软体（可选）
　　I　无铅焊锡和Sn焊料中的Pb分析非常困难，使用该软体可以简单进行非破坏分析，并
　　进行镀层厚度修正分析准确。
　　3.镀镍分析软体（可选）
　　23　I　非破坏测量无电解Ni镀层中的Pb，Cd进行镀层厚度修正分析准确。成功地去除了背底
　　的影响。
　　I
　　
　　技术参数
　　
　　
　　元素范围　Na11-U92
　　解析度保证149ev　以下（JSX-3400R是目前市面上解析度之桌上型XRF）
　　X射缐管　5-50kV，1mA，50W
　　靶材　Rh靶
　　滤波机构　4种自动交换（包括Open）
　　准直器　1mmΦ，3mmΦ，7mmΦ
　　探测器液氮制冷型Si（Li）半导体探测器
　　液氮　3升（消耗量1升/日以下）仅使用
　　样品室尺寸　300　mmΦx　150mmH
　　样品室环境大气，真空（可选）
　　作业系统　Windows　XP，19寸彩色显示器
　　主要附件能量校正样品/强度校正样品/检查样品
　　设备电源单相AC100V±10%，单相AC220V±10%