NDA200 ROHS无卤检测仪
价格:电议
地区:广东省 深圳市
电 话:86-755-18320871861
手 机:18320871861
传 真:86-755-18320871861
  应用领域
  RoHS指令筛选检测
  无卤指令筛选检测
  玩具指令筛选检测
  金属镀层测厚
  合金成分分析

  技术特点
  配置新技术“样品免拆分”检测模式:采用新技术的光路结构,小照射光斑直径可达到0.5mm,辅以的光斑定位系统,从而可以实现对复杂样品进行免拆分直接测量的要求
  配置符合中国国家标准的样品混测功能:方形4mmX4mm光斑设计,配合0.5mm光斑配合使用,能够对电路板等复杂样品实现“免拆分”区域扫描测量功能;从而显著节省测量时间,大幅度提高检测效率
  分析软件操作系统分级管理:仪器系统软件配置了操作员、工程师两级操作功能菜单,便于工厂有序管理;操作员菜单简单直观,避免仪器重要参数的误修改;工程师菜单功能强大,仪器的各种参数设置权限全部开放给用户
  采用经典的迷宫式辐射防护结构:采用了经典的迷宫式辐射防护结构,在保持仪器外形美观操作方便的同时,彻底杜绝低能散射X射线的泄露
  可选配技术“影响权系数法”多层镀层测厚功能:纳优科技的“影响权系数法”多层镀层测厚技术,显著提高镀层厚度测量的准确度;可测量镀层数量为9层;彻底解决了常规XRF测厚方法所不能解决的塑料基体镀层厚度测量的技术难题
  外观设计实用美观:符合人体工程学的仪器外形设计,操作人员测量过程方便舒适
  分析方法及系统软件
  分析方法配置:
  基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
  经验系数法
  理论α系数法

  软件功能描述:
  RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
  各种金属材料、无机非金属材料(不包括聚合物材料)的材质分析(S~U元素)
  聚合物等有机材料中硫(S)~铀(U)元素的含量分析
  分析的自主定制与输出打印
  分析结果的保存、查询及统计
  On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
  多层镀层厚度测量功能(选配)

  主要配置
  美国Si-PIN电制冷半导体探测器
  侧窗钼(Mo)靶管
  标配16组复合滤光片
  配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
  具备符合中国国家标准的样品混侧功能
  内置标准工作曲线
  配置On-line实时在线技术支持与服务平台
  具备开放工作曲线技术平台
  分析软件操作系统分级管理。

  产品参数
  名称:X荧光光谱仪
  型号:NDA200
  输入电压:220±5V/50Hz
  消耗功率:≤500W
  环境温度:15-30℃
  环境湿度:≤80%(不结露)
  主机外形(mm):长*宽*高=900*500*440
  样品仓(mm):长*宽*高=430*380*120
  主机重量:约60公斤
  技术指标
  元素种类:元素周期表中硫(S)~铀(U)之间元素
  测量时间:
  对聚合物材料,典型测量时间为200秒
  对铜基体材料,典型测量时间为400秒
  检出限指标(LOD):
  对聚合物材料:LOD(Pb)≤5mg/Kg;LOD(Hg)≤5mg/Kg;LOD(TCr)≤5mg/Kg;LOD(TBr)≤5mg/Kg;LOD(Cd)≤5mg/Kg
  对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg。