利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，提高过程和质量控制。
　　
　　X-Strata是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
　　
　　它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
　　
　　镀层测厚仪X-Strata系列提供：
　　
　　无损分析：无需样品制备
　　经行业的技术和可靠性，确保每年都带来收益
　　操作简单，只需要简单的培训
　　分析只需三步骤
　　杰出的分析准确性和性
　　在镀层测厚领域拥有超过20年的丰富经验
　　使用功能强大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，保证质量的同时降低成本。