详细资料：
Agilent 4194A阻抗/增益—相位分析仪是对元件和电路进行有效的测量、分析或合格/不合格测试的综合性解决方案。它可又快又方便地评估和测试各种阻抗特性和传输特性，包括二次参数的导出。Agilent 4194A可提高工作效率并节省测试费用，分析仪无论在阻抗还是传输的测量上均很灵活且有广泛的测量功能。它还用自动顺序编程（ASP）来现实完全可程控。通过存入面板上的键入操作，就能对所希望的测量和计算（包括图形分析）进行简单编程，从而使你能自定义测量、计算和分析功能。Agilent 4194A还具备高和误差消除功能，以保证可靠的测量。

特点：

宽的阻抗测量范围：100Hz~40MHz，10mΩ~100mΩ,用Agilent 4194A/B时为10kHz~100MHz,0.1Ω~1MΩ
增益—位测量
10Hz~100MHz，-107dBm~+15dBm,0.1dB分辨率
灵活的测量，计算和分析功能，彩色图形显示
完全可程控
宽范围的测量
快速分析
等效电路分析功能
自动顺序编程（ASP）
用Agilent 4194A/B阻抗探头配件增加功能
技术指标
阻抗测量
测量参数：|Z|、|Y|、θ、R、X、G、B、L、C、D、Q可提供12种参数组合
测试频率：100Hz~40MHz（电缆长度：0m)
振汇器电平：10mV~1Vrms(≤10MHz),10mV~0.5Vrms(>10MHz);(UNKNOWN端开路），3位分辨率
直流偏置：0~±40V，10mV分辨率
测量终端：4端对配置
测量范围和分辨率 测量参数 范围 分辩率
|Z|,R,X 10mΩ~100mΩ 100μΩ
|Y|,G,B 10nS~100S 1nS
θ ±180° 0.01°
L 1nH~100kH 10pH
C 10fF~0.1F 0.1fF
D 0.001~10 0.001
Q 0.1~1000 0.1

基本测量：0.17%
电平监视：1mV~1 Vrms,1μA~20mA
增益—相位测量
测量参数：Tch/Rch(dB,线性比值）；Tch,Rch(V,dBm,dBv),θ(度，弧度）；Tch=测量通道：Rch=参考通道，?=群延时
10Hz~100MHz，1mHz分辨率
孔径频率范围：（群延时测量）频率间隔的0.5%~100%
振荡器电平：-65dBm~+15dBm,0.1dB分辨率
测量范围：Tch/Rch:0~±120dB,0.001dB分辨率;Tch,Rch:-107dBm~-5dBm(0dB衰减器）,-87dBm~+15dBm,(20dB衰减器）；0.001dB，分辨率：θ：±180°（利用相位刻度扩展功能，可连续显示相位）0.01°分辨率；?：0.1ns~1s,0.1ns分辨率
基本测量：Tch/Rch:0.1dB,0.5°;Tch,Rch:0.35dBm
电平监视：监视参考通道和测试通道的输入电平，单位为dBm,dBV和V。
利用4194A/B的阻抗测量
下列技术指标适用于agilent4194A与agilent4194A/B联用的情况
频率范围：10kHz~100MHz,1mHz分辨率
振荡器电平：选件350：10mV~1.28Vrms;选件375：10mV~1.54Vrms
直流偏置：内部：±40V，±20mA；外部：±150V，±500mA，max.25W
测量范围：100mΩ~1MΩ
基本测量：±1.5%~3%(≥100kHz),±3%~6%(<100kHz)
电缆长度：Agilent4194A:1.5m,Agilent4194B:3m