应用领域
?RoHS指令筛选检测(具备Mapping功能)
?无卤指令筛选检测(具备Mapping功能)
?玩具指令筛选检测
应用领域
?RoHS指令筛选检测(具备Mapping功能)
?无卤指令筛选检测(具备Mapping功能)
?玩具指令筛选检测
?日用消费品中限制元素筛选检测
?合金成分分析
特别适用于:
?CN-RoHS国家指定检测实验室
?大型企业集团中心检测实验室
分析方法及系统软件
分析方法配置:
? 基于蒙特卡洛计算模型的基本参数法
? 经验系数法
? 理论α系数法
软件功能描述:
? RoHS指令、无卤指令等环保指令所限制的Pb、Hg、Cd、TCr、TBr、Cl等元素含量的分析
? 各种金属材料、无机非金属材料(不包括聚合物材料)的材质分析(S~U元素)
? 聚合物等有机材料中硫(S)~铀(U)元素的含量分析
? 分析的自主定制与输出打印
? 分析结果的保存、查询及统计
? On-Line实时在线技术支持与技术服务功能
?多层镀层厚度测量功能
主要配置
?SDD硅漂移电制冷半导体探测器
?侧窗钼(Mo)靶管
?标配16组复合滤光片
?配置了Φ0.5mm、Φ1mm、Φ3mm、Φ4mm四种准直器
?具有自动Mapping功能
?具备符合中国国家标准的样品混侧功能
?内置标准工作曲线
?配置On-line实时在线技术支持与服务平台
?具备开放工作曲线技术平台
?分析软件操作系统分级管理
产品参数
?名称:X荧光光谱仪
?型号:NDA500
?输入电压:220±5V/50Hz
?消耗功率:≤500W
?环境温度:15-30℃
?环境湿度:≤80%(不结露)
?主机外形(mm):长*宽*高=900*500*440
?样品仓(mm):长*宽*高=430*380*120
?主机重量:约60公斤
技术指标
?元素种类:元素周期表中硫(S)~铀(U)之间元素
?测量时间:
对聚合物材料,典型测量时间为30秒
对铜基体材料,典型测量时间为30秒
?检出限指标(LOD):
对聚合物材料:LOD(Pb)≤5mg/Kg;LOD(Hg)≤5mg/Kg;LOD(TCr)≤5mg/Kg;LOD(TBr)≤5mg/Kg;LOD(Cd)≤5mg/Kg
对铜基体材料:LOD(Pb)≤50mg/Kg