详细信息
　　X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品，对产生的荧光X射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM　F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。
　　为满足这种需求，的EDX系列达到了更高的灵敏度与。
　　
　　测定原理　X射线荧光分析法
　　
　　测定方法能量色散型
　　
　　测定对象固体、液体、粉状
　　
　　测定范围　13Ai~92U
　　
　　样品室尺寸W370*D320*H155mm
　　
　　迅速测定ppm级的有害金属！
　　应对WEEE＆RoHS、ELV等有害物质相关法规。
　　应对ASTM　F963，EU_EN71美国和欧盟的玩具法规和指令，保证产品和用料的绿色环保。
　　
　　X射线荧光分析装置是使用X射线照射样品，对产生的荧光X射线的能量进行检测，测定构成样品的元素种类及含量的装置。可无损地进行固体、粉体、液体、磁盘、单晶片等的元素分析，广泛应用于各个领域。特别是近，以欧盟的报废电子电气设备指令（WEEE）、电子电气设备所含特定有害物质限制使用指令（RoHS）、报废汽车指令（ELV）以及玩具指令（ASTM　F963，EU_EN71）等法规为代表的绿色采购及环境分析之中，要求更为微量、更为迅速的分析。
　　为满足这种需求，的EDX系列达到了更高的灵敏度与。