X荧光测厚仪
价格:电议
地区:江苏省 苏州市
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  塑料制品工业镀层、电子材料镀层(接插件、半导体、线路板、电容器等)、钢铁材料镀层(铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等)、有色金属材料镀层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
  1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的,利用Thick-900A型X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。
  荧光厚度与已知厚度样品结果对比:
  镀层标准厚度(μm)  0.12  0.45  1.35  2.55  4.12  5.23  7.65
  镀层荧光厚度(μm)  0.11  0.48  1.37  2.47  4.06  5.35  7.58
  2.铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的,见下表:
  镍镀层标准厚度(μm)  0.15  0.85  1.30  2.15  4.56  8.13  9.55
  镍镀层荧光厚度(μm)  0.13  0.88  1.33  2.20  4.60
  ,  8.25  9.48
  金镀层标准厚度(μm)  0.23  0.45  0.75  1.15  1.22  1.53  1.65
  金镀层荧光厚度(μm)  0.21  0.43  0.77  1.17  1.26  1.55  1.58
  3.仪器长期稳定性评定单镀层Ni/Cu稳定性测定:连续测定20次,计算其标准偏差和相对标准偏差,均能达到很好的效果。
  测量次数  1  2  3  4  5  6  7  8  9  10
  Ni(um)  1.778  1.783  1.774  1.78  1.774  1.765  1.784  1.763  1.759  1.769
  测量次数  11  12  13  14  15  16  17  18  19  20
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