X荧光测厚仪
价格:电议
地区:江苏省 苏州市
传 真:86-0512-81862861
塑料制品工业镀层、电子材料镀层(接插件、半导体、线路板、电容器等)、钢铁材料镀层(铁、铸铁、不锈钢、低合金、表面处理钢板等)、有色金属材料镀层(铜合金、铝合金、铅合金、锌合金、镁合金、钛合金、贵金属等)、其它各种镀层厚度的测量及成分分析。
1.铜上镀金单镀层厚度测量铁、铜等材料上镀金的金厚度测量是工业中常见的,利用Thick-900A型X荧光镀层测厚仪可以获得很的结果。
荧光厚度与已知厚度样品结果对比:
镀层标准厚度(μm) 0.12 0.45 1.35 2.55 4.12 5.23 7.65
镀层荧光厚度(μm) 0.11 0.48 1.37 2.47 4.06 5.35 7.58
2.铜上镀镍再镀金的双镀层厚度测量铁、铜等材料上先镀镍再镀金的厚度测量也是工业中常见的,见下表:
镍镀层标准厚度(μm) 0.15 0.85 1.30 2.15 4.56 8.13 9.55
镍镀层荧光厚度(μm) 0.13 0.88 1.33 2.20 4.60
, 8.25 9.48
金镀层标准厚度(μm) 0.23 0.45 0.75 1.15 1.22 1.53 1.65
金镀层荧光厚度(μm) 0.21 0.43 0.77 1.17 1.26 1.55 1.58
3.仪器长期稳定性评定单镀层Ni/Cu稳定性测定:连续测定20次,计算其标准偏差和相对标准偏差,均能达到很好的效果。
测量次数 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10
Ni(um) 1.778 1.783 1.774 1.78 1.774 1.765 1.784 1.763 1.759 1.769
测量次数 11 12 13 14 15 16 17 18 19 20
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