珍珠珠层厚度无损检测仪
　　主要技术参数：
　　光源波长：1300 nm
　　光源功率：5mW
　　样品面光功率：1-2mW
　　纵向分辨率：20um
　　横向分辨率：20um
　　扫描深度：3mm
　　成像速度：1-2f/s
　　工作距离：50-70mm
　　
　　全世界台近红外光珍珠珠层无损成像仪（发明号：2006100575466）。利用低功率近红外光对珍珠无损成像，照射到样品的光功率仅1-2mW，波长为1.3微米，无放射性，对检测工作者和珍珠样品完全无损伤，检测实验室无需放射性屏蔽，不会对工作人员产生潜在的X线放射性危害；与传统的X线前向透射成像相比，本产品采用了创新的非接触式背向散射成像技术实现了单珠检测，使用于半成品、成品珍珠首饰的测量成为可能；直观的珍珠珠层图像，准确测量珍珠珠层厚度，分辨率可达0.03毫米；仪器小型化，安装、使用方便，可在生产工厂、检测机构、分销单位、零售单位等场所直接使用；成像检测速度快，每个样品仅用1-2秒，可选配分选器，适用于珍珠养殖、生产过程中的分级、筛选。