一、应用领域
　　UTX620是一款经济、实用、操作简便的X射线荧光光谱仪，适用于：
　　五金、接插件、电气连接器电镀，PCB电镀，塑料、ABS、镁铝合金电镀；含量普通的合金材料分析。镀液主盐分析。
　　检测电镀Au、Ag、Sn、Ni、Cu、Zn、Cr、NiP、SnPb合金、SnCu合金、ZnNi合金、AuPdNi合金等镀层厚度。
　　电镀液中Au、Ag、Cu、Ni、Cr、Zn、Sn的主盐的浓度。
　　
　　二、产品特点
　　1、无损分析；
　　2、从K到U的快速元素分析、金属镀层厚度检测；
　　3、测镀液中含量50g/L的主盐，测定范围Ti22-U92；
　　4、可全天候工作，坚固耐用，非实验室人员亦可操作；
　　5、测量时间短，每个测量只需10-60秒。
　　
　　三、技术指标
　　产品执行标准  DIN50987，ISO3497，ASTMB568
　　测试原理  EDXRF能量色散X荧光光谱法
　　测量样品  固体、液体、粉末
　　功能  单镀层和多镀层测厚与元素分析
　　  多可分析6层（不包括基层）
　　  镀液主盐成份分析
　　高压发生器
　　输入电压  24VDC±10%
　　输出电压  0-50kV
　　输出电流  0-2.0mA
　　输出  0.01%
　　X射线管
　　X射线管靶材  W靶材
　　X射线管窗口  Be窗
　　电气参数  50W，4-50kV，0-1000uA
　　冷却方式  油冷却
　　X射线照射方向  从上往下↓
　　照射范围  Φ0.2mm
　　使用寿命  15000-20000h
　　探测器
　　探测器类型  正比计数探测器
　　元素分析范围  K19-U92
　　分辨率  FWHM<760eV
　　探测窗口  铍窗，窗口面积：400mm2
　　镀层测厚与元素分析指标
　　元素分析范围  K19-U92
　　测厚范围  0.01—35um
　　层精密度/准确度  相对标准差5%以下（厚度大于0.5um时）
　　相对标准差3%以下（厚度大于8um时）
　　第二层精密度/准确度  相对标准差10%以下（厚度大于0.5um时）
　　测量时间  10-60s
　　谱处理系统
　　处理器类型  全数字化32-bit　DSP
　　谱通道数  256，512，1024，2048可供选择
　　计数率  大于100000cps
　　能量范围  1400eV-40960eV
　　死时间  <3%
　　光路系统和样品观测
　　准直器系统  单一准直器Φ0.2mm
　　对焦系统  镭射激光对焦
　　样品观察系统  300万像素高清CCD摄像头，20倍光学变焦
　　样品室
　　样品室内部空间  （宽×高×深）：455×185×430mm
　　样品台尺寸  （宽×深）：272×308mm
　　样品台承载重量  ≤5kg
　　试验样品尺寸  宽×高×深：440×170×410mm
　　样品台控制方式  简易手动样品台
　　工作台移动技术数据  X＝200±5、Y＝200±5、Z＝160±5mm
　　工作台移动  0.02mm
　　软件  镀层测厚软件、元素分析软件
　　软件类型  FP基本参数法软件
　　软件语言  简体中文、繁体中文、英文、其它
　　谱显示  自动峰定性，KLM标记，谱重迭比较
　　谱处理  总强度，净强度，背景强度；全面积，净面积，多元素拟合，高斯拟合
　　资料分析  基本参数，基本谱图，无标样测试，峰位修正，底材修正
　　重量和尺寸
　　设备主体尺寸  宽×高×深：W　503×H　635×D　790mm
　　主体重量  约70kg
　　使用环境
　　工作环境  温度15-25℃，湿度40-70%RH
　　电源系统  单相220V±10%，工作电压在允许范围内
　　其它  1.不要靠近产生强磁场，电场，高频等装置；2.减少振动3.粉尘少，湿度低，无腐蚀性气体；4.日光不能直射；5.作为地震的对策，要考虑装置的固定。