XRF-2000镀层测厚仪
价格:电议
地区:广东省 深圳市
传 真:86-755-18320871861
详细信息:
Micro Pioneer XRF-2000系列荧光金属镀层测厚仪能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能优越,而且价钱超值。只需数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,甚至是多层镀层的样品也一样能胜任。全自动XYZ样品台,镭射自动对焦系统,十字线自动调整。超大/开放式的样品台,可测量较大的产品。是线路板,五金电镀,首饰,端子等行业的。可测量各类金属层、合金层厚度。是非破坏性测厚仪器的机型。
可测元素范围:
钛(Ti)–铀(U)
可测量厚度范围:
原子序22-25,0.1-0.8μm
26-40,0.05-35μm
43-52,0.1-100μm
72-82,0.05-5μm
X-射线管:油冷,超微细对焦
高压:0-50KV(程控)
准直器:
固定种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm
自动种类大小:可选0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm
电脑系统:IBM相容,17"显示器
综合性能::镀层分析定性分析定量分析镀液分析
镀层分析:可分析单层镀层,双层镀层,三层镀层,合金镀层。
镀液分析:可分析镀液的主成份浓度(如镀镍药水的镍离子浓度,镀铜药水的铜离子浓度等),简单的核对方式,无需购买标准药液。
定性定量分析:可定性分析20多种金属元素,并可定量分析成分含量。
光谱对比功能:可将样品的光谱和标准件的光谱进行对比,可确定样品与标准件的差别,从而控制来料的纯度。
统计功能:能够将测量结果进行系统分析统计,方便有效的控制品质。