ROHS检测仪生产厂家，镀层测厚仪，合金分析仪，无铅测试，重金属检测
　　纳优NaU-E650
　　采用纳优技术的全新光路设计，显著抻高分析和数据可靠性，减小灰色地带区间，节省外送检测成本；
　　行业内全配置的12组滤光片（行业内一般配置≤8组），实现自动选择空间。
　　提供开放式工作曲线标定技术平台，可为用户量身定做的有害物质检测和控制方案；
　　全自动一键式操作－载物平台、样品室、准直器、滤光片、照射光斑定位等全部自动操作；
　　测试时间在100－400秒间自行设定（系统自动默认设定200秒）；
　　经典可靠的迷宫式辐射防护结构，结合软硬件多重保护，确保辐射安全性能；
　　测量元素范围：Na-U.
　　NaU-E650主要应用技术指标：
　　（针对RoHS指令要求，按照工业和信息化部电子信息产品污染控制技术促进中心《RoHS检测用X荧光能谱仪性能评价规范RoHSQ09-005》的定义和测试方法，筛选测试各种中的Pb、Cd、Hg、CrBrCl）
　　NaU-E650进行XRF筛选允收标准示例（推荐值，按照IEC62321Edition　1.0　2008-12标准帛定）
　　纳优E650型RoHS检测仪参数：
　　产品名称（product　name）：Nayur　X荧光无卤分析仪（Nayur　halogen-free　XRF）
　　型号（type）：NaU-E650
　　测试对象（test　object）：粉未、固体、液体（powder，solid，liquid）
　　测量时间（test　time）：100-200s
　　环境温度（environment　temperature）：15℃-30℃
　　环境湿度（environment　humidity）：30%-80%
　　管压（tube　voltage）：10KV-50KV
　　管流（tube　flow）：50uA-1000uA
　　外形尺寸（instrument　dimension）：730mm×440mm×330mm
　　样品腔面积（sample　cavity　dimension）：400mm×400mm×100mm
　　重量（weight）：30Kg
　　----------纳优E650型RoHS检测仪配置：
　　高分辨率电制冷半导体探测器（high-resolution　electric　refrigeration　semiconductor　detector）
　　卤素测试专用配件（halogen　test　accessory）
　　光路优化系统（optical　optimization　system）
　　内置高清晰CCD摄像头（high-resolution　CCD　camera）
　　自动切换准直器和滤光片collimators　and　filters　automatic　switching　system
　　全自动定位测试系统（automatic　positioning　test　system）
　　样品仓自动开关装置（fully　automatic　sample　cavity）
　　三重安全保护模式（triple　security　protected　mode）