仪器用途：
　　该仪器适用于以二维坐标测量为目标的，用于LCD、LED、IC芯片需要同轴金相量测等行业。
　　仪器特点：
　　强大的YR-VT测量软件，可实现所有二维平面测量功能，还具备拍地图、产品轮廓扫描、SPC统计、手动CNC、宏测量等功能。Z轴升降采用大理石柱，可实现Z非接触式测量和平面度测量。
　　规格参数
　　
　　仪器型号  
　　YVM-2010JVT
　　YVM-3020JVT  YVM-4030JVT  YVM-5040JVT
　　量测行程  200*100*220mm（X.Y.Z）  300*200*220mm（X.Y.Z）  400*300*220mm（X.Y.Z）  500*400*220mm（X.Y.Z）
　　X.Y.Z小显示值  0.001mm
　　测量  X.Y　Axis：（3＋L/200）μm
　　重复性  3μm
　　测量方式  影像式
　　影像放大倍率  96~624X（可扩展至120~1560X）
　　CCD  43万像素彩色高清晰度摄影机（SONY芯片）
　　镜头  高清晰度0.7~4.5Xzoom同轴光变焦镜头
　　工作距离  20mm（影像）
　　电脑  品牌电脑
　　测量软体  YR-VT（可实现Z轴测量和平面度测量）
　　升降立柱  花岗石立柱
　　仪器基座  000级高稳定性花岗石底座
　　照明  上光源采用同轴光照明下光源采用LED无影灯
　　外观尺寸  500*550*950mm  700*650*950mm  980*750*950mm  1050*800*950mm
　　仪器重量  175kg  180kg  300kg  500kg
　　选购件  金相物镜　5X、10X