CIT-3000SYB 能量色散X荧光分析仪，是公司专门应对欧盟RoHS、WEEE指令和卤素测试要求而量身定做的一款高灵敏度、高的分析测试设备。
　　适用范围
　　适用于电子产品、工具、玩具等RoHS/WEEE有害元素（Pb、Hg、Br、CD、Cr）和卤素检测；
　　性能特点
　　采用数字化谱分析技术，计数率高，无漏计，稳定性好；
　　采用美国航天技术的Si（PIN）半导体探测器计数，配合的数字脉冲处理技术，能量分辨率优于150eV；
　　40KV-钨靶微型X射线管；
　　采用2048道多道分析器，分析更高；
　　一体化设计，性能稳定，运行可靠，性价比高；操作简单，测量时间短，同时配备PC机；
　　测量物质状态：固体、粉末、液体均可测，制样简单；
　　
　　技术指标
　　分析元素范围：Na-U
　　元素含量分析范围：1ppm-99.99%
　　探测器能量分辨率优于150eV
　　检出限：CD/Cr/Hg/Br≤1ppm，Pb≤2ppm，Cl≤20PPm
　　校正方式：采用欧盟RoHS标样校准数据
　　测量范围：1－40KeV
　　高压：0kV-40kV
　　管流：0μA-100μA
　　的稳定电源：AC 220V±1%，50Hz（采用国内先进的高品质稳压电源1000VA）
　　检测时间：120S～600S（时间随样品而调整）
　　圆形样品真空腔：直径14cm，高5cm；
　　工作环境温度：温度0-35℃；样品温度＜70℃
　　工作环境相对湿度：≤99%（不结露）
　　额定功率：50W
　　仪器重量：25Kg
　　仪器尺寸：500（W）X500（D）X450（H）mm
　　仪器配置
　　仪器主机一台
　　进口电制冷半导体探测器
　　X光管（0-40KV）
　　高压电源
　　品牌计算机一台
　　激光打印机一台
　　真空泵一台
　　压片机一台
　　制样模具一套
　　稳压电源一台
　　测试软件一套标准包装