AT-5000型X射线膜厚仪
　　AT-5000是新型的X射线镀层测厚仪。它采用先进的半导体探测器，能精准测试任何复杂的镀层结构，使用的定位系统，可以测试直径很小的样品。其强大的分析功能，足以在镀层测厚领域大显身手。
　　
　　X射线镀层测厚仪主要配置
　　半导体探测器
　　微聚焦X光管
　　高压电源
　　滤光片4组
　　准直器5个　5mm、2mm、1mm、0.5mm、0.2mm、0.1mm可选
　　高清CCD
　　打印机1台
　　计算机1台
　　
　　X射线镀层测厚仪软件
　　镀层测厚分析软件
　　元素含量分析软件（可选）
　　
　　X射线膜厚仪技术参数
　　可测镀层类型：金属镀层（基材可为金属或非金属）
　　金属基材上的无机镀膜
　　测镀层数：5层
　　镀层种类：单金属镀层/合金镀层/无机镀膜
　　可测元素：硫（S）－铀（U）
　　厚度测量范围：轻金属（如Ti、Cr等）0.05～20um
　　中金属（如Ni、Cu、AG等）0.01～30um
　　重金属（如PT、Au等）0.005～10um
　　测试：可达纳米级
　　厚度相对误差：单层<5%，多层5~10%
　　小测量直径：0.5mm
　　输入电压：AC220V/50Hz
　　功耗：150W（仪器主机）
　　样品腔尺寸：550mm*450mm*180mm
　　仪器尺寸：580mm*480mm*450mm
　　重量：56Kg