EDX-680型 X荧光分析仪是专为金属材料、黄铜合金及其它合金材料测试行业研制的高性能仪器。除能进行常规Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素分析外，还实现了低成本、简单快速、准确的分析Al、Si、P、S、Mg等轻元素愿望。
　　
　　EDX-680 X荧光分析仪完全满足RoHS/WEEE相关管控要求，符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。
　　
　　u 应用领域
　　
　　1．检测样品种类：
　　
　　（1）不锈钢、低碳钢、生铁、铸铁、铜合金、钢铁合金、铝合金、镁合金、锌合金等。
　　
　　（2）黄铜类样品：铅黄铜、镍黄铜、锰黄铜、锡黄铜、锡青铜、镍白铜、锌白铜等。
　　
　　（3）铜矿及铜冶炼过程产品。
　　
　　2．分析元素：Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As、Al、Si、P、S、Mg、Ti、V、Cr、Co等元素。
　　
　　3．对RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）进行精准测试。
　　
　　4．金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定。
　　
　　u 性能特点
　　
　　1.国际流行的弧线落地式高端外型设计。
　　
　　2.在60-20秒内同时完成从钠（Na）到铀（U）之间几十种元素的准确快速分析。
　　
　　3.检测样品为规则样品与不规则样品，包括块状、片状、线状。样品类型为塑胶、金属、粉末、液体。
　　
　　4.高压电源。功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-10uA。8小时稳定性≤0.05%。
　　
　　5.高效长寿命X光管，指标达到国际先进水平。功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-10uA。
　　
　　6.进口原装电制冷Si-Pin探测器，良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
　　
　　7．美国原装前置放大器及放大器等信号处理器：适应高计数率，高抗干扰能力的一体化电子线路。
　　
　　8. 高真空系统：检测环境可以选择高真空状态，大幅度提高镁铝硅磷硫等轻元素的分析。
　　
　　9.多个准直器和滤光片的电动组合，软体自动切换，满足各种测试方式的应用，降低分析元素附近的背景强度，提高分析限。
　　
　　10.多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制，提高分析准确度。
　　
　　1.内置高清晰摄像头，有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测的组成部分。
　　
　　12.载物测试平台，可放置大样品。
　　
　　13.高效三维散热系统：大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。
　　
　　14．辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统。
　　
　　15. 分析软件：国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。
　　
　　u 技术指标
　　
　　1.测量元素范围：从钠（Na）到铀（U）。
　　2.元素含量分析范围：pm—9.9%（不同元素，分析范围不同）。
　　3.同时分析元素：性可测从钠（Na）到铀（U）之间几十种元素。
　　
　　4.测量时间：60秒-150秒。
　　
　　5.样品类型：塑胶、金属、粉末、液体。
　　6.检出下限（ROHS元素）：Cd/Cr/Hg/Br≤2 pm, Pb≤5 pm 。
　　
　　7. 分辨率能达到149eV±5ev。
　　
　　8．工作环境：温度为温度 15～30℃ 湿度 ≤85% （不结露）。
　　9.电源：交流20V±5V, 选配高参数稳压电源。
　　10.样品腔尺寸：Φ180 mm×65mm。
　　
　　1.外观尺寸：540 mm×60 mm×1040mm。
　　
　　12.电源：AC 20V～240V、50Hz
　　
　　13.额定功率：80W
　　
　　14.重量：约50KG.
　　
　　u 主体配置
　　
　　1. 高压电源。
　　
　　2. 高效薄窗X光管（W或Mo靶）。
　　
　　3.原装美国高性能电制冷Si-Pin半导体探测器 。
　　
　　4.高真空系统
　　
　　5.大样品测量腔
　　
　　6.光路增强系统
　　
　　7.高信噪比电子线路系统
　　8.内置高清晰摄像头
　　9.自动切换型准直器和滤光片
　　10.三重安全保护模式
　　1.弧线落地式立式机柜。
　　
　　12.计算机：CPU  P4 2.4G ，内存1G（含1G），硬盘30G。19英寸液晶显示器。
　　
　　13.打印机：激光打印机。
　　
　　14.分析软件。
　　
　　15.标准物质：银校正标样等。
　　
　　16. 仪器的其它配置：样品杯、保险丝。