EDX-260型 X荧光分析仪具有分析高、测试速度快、测试简单等优点。可完全满足RoHS/WEEE相关管控要求，符合国际电工委员会IEC62321标准及中国环保标准所规定的技术要求和技术规范。

一．应用领域：

1．分析从硫（S）到铀（U）之间的Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素。

2．对RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）进行精准测试及无卤测试。

3．金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定分析。

二．性能特点:

1.检测样品为规则样品与不规则样品，包括块状、片状、线状。样品类型为塑胶、金属、粉末、液体。

2.高压电源。功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-10uA。

3.高效X光管。功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-10uA。

4.进口原装电制冷Si-Pin探测器。良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。

5.高信噪比的电子线路系统。

6.八个准直器和四个滤光片的电动组合，软体自动切换，满足各种测试方式的应用，降低分析元素附近的背景强度，提高分析限。

7.多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增强效应得到明显的抑制，提高分析准确度。

8.内置高清晰摄像头，有效的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测的组成部分。

9.载物测试平台，配有微调装置，实现检测物的定位与检测区域的理想调整。

10.小样品腔尺寸(闭仓门测试)：460×298×150mm。大样品腔尺寸(开仓门测试)：无限制，部分取代手持式功能。

1.高效三维散热系统：大幅度提供仪器的可靠性、稳定性。

12.辐射安全系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线防护系统。

13. 分析软件：国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，全面保证测试数据的准确性。

三．技术指标：

1.测量元素范围：从硫（S）到铀（U）。
2.元素含量分析范围： ppm—9.9%（不同元素，分析范围不同）。
3.同时分析元素：性可测几十种元素。

4.测量时间：60秒-20秒。

5.样品类型：塑胶、金属、粉末、液体。
6.检出下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm 。

7.工作环境：温度为温度 15～30℃ 湿度 ≤85% （不结露）。
8.电源：交流20V±5V,选配高参数稳压电源。
9.分辨率能达到149eV±5。
10.样品腔尺寸：460×298×150mm。

1. 外观尺寸：50×416×3mm。

12.电源：AC 20V～240V、50Hz。

13.额定功率：80W。

14.重量：约45KG.

四．主体配置：

1.高效薄窗X光管（W或Mo靶）。
2.高压电源。
3.原装美国高性能电制冷Si-Pin半导体探测器。

4.大样品测量腔。
5.移动平台。

6.光路增强系统。
7.高信噪比电子线路系统。
8.高清晰摄像头。
9.自动切换型准直器和滤光片。
10.三重安全保护模式。
1.整体钢架结构，力度可靠的保证。

12.计算机、液晶显示器、激光打印机。

13.分析软件。

14.标准物质：银校正标样等。

15.仪器的其它配置：样品杯 、测试薄膜、保险丝。