N10702型高薄膜测厚仪技术特征：
　　微电脑控制、液晶显示
　　菜单式界面、PVC操作面板
　　接触式测量
　　测头自动升降
　　自动进样
　　手动、自动双重测量模式
　　数据实时显示、自动统计
　　显示值、小值、平均值和统计偏差
　　可设进样步距、测量点数、进样速度等参数
　　标准接触面积、测量压力（非标可选）
　　显示值、小值、平均值和统计偏差
　　标准量块标定
　　RS232接口
　　网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输。

　　N10702型高薄膜测厚仪技术参数：
　　测量范围：0～2mm、0～6mm；12mm（可选）
　　分辨率：0.1μm
　　测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
　　接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
　　进样步距：0～1000mm
　　进样速度：0.1～99.9mm/s
　　电源：AC　220V　50Hz
　　外形尺寸：461mm（L）×334mm（B）×357mm（H）
　　净重：32kg